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X線吸収微細構造 : XAFSの測定と分析

宇田川康夫|編. -- 学会出版センター, 1993. -- (日本分光学会測定法シリーズ ; 26). <TW00086560>
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X線吸収微細構造 : XAFSの測定と分析

宇田川康夫|編. -- 学会出版センター, 1993. -- (日本分光学会測定法シリーズ ; 26). <TW00086560>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 期限日 予約 WEB書棚
0001 世田谷 研究室 433.5/46 11112002036454 研究室 0件
0002 世田谷 ３Ｆ東 433.57/N71n/26 11112004004592 0
No. 0001
巻号
所蔵館 世田谷
配置場所 研究室
請求記号 433.5/46
資料ID 11112002036454
状態 研究室
期限日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 世田谷
配置場所 ３Ｆ東
請求記号 433.57/N71n/26
資料ID 11112004004592
状態
期限日
予約 0
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 X線吸収微細構造 : XAFSの測定と分析 / 宇田川康夫|編
Xセン キュウシュウ ビサイ コウゾウ
出版・頒布事項 東京 : 学会出版センター , 1993
形態事項 x, 222p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4762257087
書誌構造リンク 日本分光学会測定法シリーズ||ニホン ブンコウ ガッカイ ソクテイホウ シリーズ <TW20005954> 26//a
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 宇田川|康夫
ウダガワ,ヤスオ <>
分類標目 NDC:433.5
件名標目等 分光化学||ブンコウカガク
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